ICP-OES 等離子體發射光譜儀采礦地質化學分析-華普通用
發表日期：2022/11/17 瀏覽次數：
采礦-地質化學
ICP-OES 等離子體發射光譜儀在采礦和地質化學領域，斯派克的先進分析儀獨領風騷
元素分析是勘探和采礦過程中最重要的調查手段之一。X射線熒光（ED-XRF）光譜儀為巖石、勘探樣本、礦物、礦石、富集礦和尾礦的分析提供了方便快捷的方法，通常需要遠少于其他技術的樣本制備工作。
針對樣品量大、要求分析時間短、尤其是輕元素檢出限低，ICP-OES 等離子體發射光譜儀提供了所需性能。兩種技術均可輕松實現自動化，不到兩分鐘即可完成樣本分析，達到亞ppm（百萬分之一）和ppb（十億分之一）范圍的檢出限。