全新展望卡爾蔡司關聯顯微鏡顆粒度分析-華普通用
Axio Zoom.V16與關聯顯微鏡都能進行顆粒質量檢測
德國斯圖加特，耶拿在今年德國斯圖加特舉辦的清潔貿易博覽會上，卡爾蔡司顯微鏡部帶來了兩個用于顆粒分析的新選擇。通過Axio Zoom.V16系統，用戶可以快速高效地檢測部件的清潔度，同時關聯顯微鏡還可對單個顆粒進行化學元素和成分分析。
對于汽車與電子行業和機械工程行業中質量控制領域的用戶，都可以運用這兩個方法去檢查清潔度和確認在工藝過程中扮演重要角色的顆粒。該顆粒度分析支持ISO 16232和VDA 19 標準。
Axio Zoom.V16
Axio Zoom.V16是一款變倍比可達16、孔徑光闌交大的連續變倍體顯微鏡。它可以拍攝大視場范圍的圖像，并具有較高的分辨率。通過全新的電動控制器可以改變偏光襯度，顆粒就可以完全自動地分為反射型和非反射型。采用AxioVision的顆粒度分析軟件模塊可以獲得面積百分比，大小分布以及顆粒類型的信息。Axio Zoom.V16對5μm以上的顆粒測量有很好的表現并能快速地提供所需信息。“位于斯圖加特主要應用于制造工程及全自動IPA的Fraunhofer研究所的首批用戶都被分析區域之大及分析時間之短震撼了。”Jati Kastanja卡爾蔡司顆粒分析產品經理熱情的介紹到。
關聯顯微鏡顆粒分析
關聯顯微鏡是指可以將光學顯微鏡和電子顯微鏡相結合的一個工作體系。光學顯微鏡可以觀察得到面積百分比，大小分布和顆粒類型的結果。另外，X射線能譜分析法(EDS)可以確認化學組成元素，這就構成了光鏡下所選顆粒的成分分類基礎。三種不同的用戶模式確保對未決定任務的調整，以及確認分析數據細節的等級.ZEISS電子顯微鏡EVO和SIGMA以及光學顯微鏡Axio Imager都支持關聯顯微鏡顆粒度分析。關聯顯微鏡的顆粒分析過程是全自動的，并且比單個顯微鏡的分析要快10倍多。測量結束，用戶還可以得到一份關于光學顯微鏡和電子顯微鏡分析結果的綜合報告。